J200 Tandem LIBS-LA 장비
원소와 동위원소 분석, 빠른 처리능력, 시료 전처리가 필요없는 특징을 가진 일체형(All-in-one) 장비를 원하시나요? 어플라이드 스펙트라의 J200 Tandem LA-LIBS 장비가 바로 그 정답입니다. J200는 레이저 어블레이션(Laser Ablation: LA)으로 형성된 플라즈마에서 방출한 빛을 집광하여 분광분석을 하는 동시에, 레이저 어블레이션으로 만들어진 나노 입자를 높은 효율로 ICP-MS 장비로 전달합니다.
이 혁신적인 분석 기법은 무기원소 및 경원소의 분석, 빠른 원소 맵핑(mapping), 플라스마 방출선을 사용한 ICP-MS 결과값의 정규화(normalization), 주원소/미량원소 및 동위원소 동시 측정 등과 같은 새롭고 흥미로운 측정 방식의 가능성을 열어줍니다.
J200은 J200 LA 및 J200 LIBS와 같이 어플라이드 스펙트라의 신뢰받는 최첨단 제품 라인으로부터 입증된 레이저 어블레이션(Laser Ablation) 시스템 설계 및 레이저 유도 플라즈마 분광법(LIBS)의 경쟁력 있는 기술이 그대로 적용 되었습니다. 소모성 가스 및 레이저 광학장비의 교체 비용이 거의 들지 않기 때문에, J200 Tandem은 뛰어난 분석능력을 제공하면서도 장비의 유지비용은 매우 낮습니다.
The J200 Tandem 장비:
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ICP-MS, LIBS 또는 이 두 장비 모두에 있어서 레이저 어블레이션을 통한 전처리없이 고체시료의 직접분석 가능
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주원소/미량원소 및 동위원소의 동시 측정
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실시간 분석 (측정 속도 수 초 이내)
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C, H, O, N, F 등과 같이 ICP-MS를 적용하기 힘든 원소들을 다룰 수 있음
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Bulk 분석, 개재물 분석(inclusion analysis), 심도분석(depth profiling), 원소 맵핑(elemental mapping) 등 다양한 분석방법 가능
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ppb 단위부터 % 수준까지 농도 측정범위 확대(dynamic range)
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Dual 카메라를 사용한 손쉬운 샘플링 영역 식별 및 선택
J200 Tandem 장비의 특징과 장점으로는 다양한 선택사항, 모듈식 설계, 불균일한 시료 표면에 대한 자동높이 조정 기능, LA 측정을 위한 시료 챔버(chamber) 최적화 기능, 고정밀 가스유동제어, Dual 카메라를 통한 시각화 및 입체시스템(sample visualization system) 등이 있습니다. 또한 J200는 다중분광기(multiple detector) 선택사항을 통해 3개의 서로 다른 LIBS 분광기의 설치를 가능하게 함으로써, 단독 LIBS 모드에서 다양한 응용분석을 가능하게 해줍니다. 이에 대하여 더 자세한 정보를 원하신다면 이메일을 통하여 제품 카탈로그와 제품 사양서를 요청하시기 바랍니다.
Tandem LA-LIBS Application Notes
Innovative Elemental Mapping of Geological Minerals with Applied Spectra’s J200 Tandem LA-LIBS
A
pplied Spectra’s J200 Tandem LA – LIBS instrument extends the elemental imaging capability of traditional laser ablation instruments by harnessing the analysis power of LIBS to cover elements that are challenging for LA-ICP-MS…
Elemental Mapping of Printed Ink Using the J200 Tandem LA – LIBS Instrument In Combination with ICP-MS
The ability to perform fast elemental mapping using the J200 Tandem instrument was demonstrated. The data obtained from